摘要 儀器簡介：采用平臺式設計，便于在光路中加入被研究物質

摘要 儀器簡介：本試驗設備可以熟悉邁克爾遜干涉儀、馬赫--曾德爾干涉儀、薩格奈特干涉儀的知識點；通過實驗可以理解實驗原理，掌握干涉測量技術，通過此實驗系統(tǒng)進行線性膨脹系數(shù)測定實驗和壓電陶瓷的特性研究，此涉及這些知識點融合在一起，便于學習和通過實驗現(xiàn)象來橫向比較實驗原理

摘要產(chǎn)品介紹：北京波威提供的MINT是一個延遲線干涉儀(DLI)可以對輸入光信號和其延遲了1bit的信號進行干涉。MINT用于D(Q)PSK解調，在很多應用中得以使用 。MINT可調，能夠精確匹配載波頻率?？梢垣@得兩種相位調節(jié)選項:一種是超快選項(U),具有非常低的調節(jié)時...

摘要產(chǎn)品介紹：北京波威提供的OPTIPHASE光纖干涉儀用于精密測試和測量儀器以及光纖傳感系統(tǒng)。產(chǎn)品由OPTIPHASE研發(fā)的PZ1低剖面光纖拉伸器驅動，通過一個前面板BNC連接器進行增強調制。邁克爾遜干涉儀和馬赫-曾德爾干涉儀的波長從1064納米到1550納米不等。每個...

摘要 LeicaDCM8白光共焦干涉顯微鏡

摘要 產(chǎn)品介紹：平面度測量機，采用掠入射光干涉原理，專注于高精密加工表面平面度快速測量評估 , 廣泛應用于半導體行業(yè)（ Wafers) 、 LCD 掩膜 (Photomask) 、玻璃 (Glass) 、泵、閥門密封件表面 (Sealing

摘要 產(chǎn)品介紹：美國ZYGO白光干涉儀8200 NewView 8200系列的3D光學表面輪廓儀可以提供強大的多功能的非接觸式光學表面形貌測量分析。所有的測量都無損、快速，并且不需要樣品制備。強大的分析軟件可

摘要 產(chǎn)品介紹：美國ZYGO白光干涉儀8300 NewView 8300系列的3D光學表面輪廓儀可以提供強大的多功能的非接觸式光學表面形貌測量分析。所有的測量都無損、快速，并且不需要樣品制備。強大的分析軟件可

摘要 產(chǎn)品概述 該產(chǎn)品應用光干涉原理，可迅速、準確的測定煤礦井下環(huán)境中的甲烷和二氧化碳有害氣體

摘要 產(chǎn)品說明：馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉

摘要 微奧MEMS微干涉模塊是利用MEMS微鏡設計的一款邁克爾遜干涉儀，可以實現(xiàn)各種光干涉

摘要 日本RIKEN(理研)FI-815A光波干涉式氣體偵測器 產(chǎn)品介紹：

摘要 該產(chǎn)品應用光干涉原理，可迅速、準確的測定煤礦井下環(huán)境中的甲烷和二氧化碳有害氣體

摘要SWIM-1510MS干涉儀掃描白光干涉顯微儀產(chǎn)品特點及用途結合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結合顯微物鏡與干涉儀、不需要復雜光調整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學易用等優(yōu)點，可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量，適合各種材料與微組件表面特...

摘要 將共焦共焦原理和白光光譜干涉法結合使機構震動對測量的結果不產(chǎn)生影像不需要垂直掃描達到亞納米級分辨率，最小可測厚度 0.4 μm的透明體厚度傳感器自身原理可達納米級分辨率共焦可以保證點與點之間不出在相互干擾超高測量精度，厚度測量時達到0.3nm分辨率,10nm 測量精度

摘要 產(chǎn)品概述 該產(chǎn)品應用光干涉原理，可迅速、準確的測定煤礦井下環(huán)境中的甲烷和二氧化碳有害氣體

摘要項目技術參數(shù) 測量范圍（0.0~10.0）%+-3%CH4 分劃板分辨率 0.5%CH4 刻度盤分辨率 0.02%CH4 燈泡電壓/電流 1.5v/0.3A 電池型號 R20 防爆型式 Exibl 外形尺寸 225*135*70mm 重量 1.8kg 安全標志證號 ...

摘要 產(chǎn)品概述該產(chǎn)品應用光干涉原理，可迅速、準確的測定煤礦井下環(huán)境中的甲烷和二氧化碳有害氣體

摘要 導電料子顯微鏡/微分干涉顯微鏡

摘要 HL200導電粒子檢查顯微鏡.微分干涉

摘要 *便宜微分干涉導電粒子檢查顯微鏡

摘要 LCD COG導電粒子壓痕 粒子爆破檢測顯微鏡 微分干涉顯微鏡

摘要 光干涉甲烷檢測儀

摘要 TOPOS激光干涉平面度快速測量機TOPOS激光干涉平面度快速測量機，采用掠入射光干涉原理，專注于高精密加工表面平面度快速測量評估,廣泛應用于航空航天，汽車工業(yè)噴油嘴行業(yè)，泵、閥門密封件表面，以及光學工程，激光工程等領域

摘要 主要用于檢定和校準礦用光干涉甲烷測定器，符合JJG677-2006《光干涉甲烷測定器》檢定規(guī)程和MT28-2005《光干涉甲烷測定器》標準要求

摘要 本儀器適用于檢定、校準量程為（0~10）%CH4he(10~100)%CH4的光干涉式甲烷測定器，符合JJG677-2006《光干涉甲烷測定器》檢定規(guī)程和MT28-2005《光干涉甲烷測定器》標準要求

摘要 CJG10（原AQG-1）光干涉式甲烷測定器

摘要 CJG100光干涉式甲烷測定器

摘要 即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測 采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性 可進行高速...

摘要 納米干涉形貌儀nanoprofilometer是采用微納干涉顯微鏡部分相干光的干涉技術制造的納米輪廓儀和納米形貌儀,可定量測量微米尺度和納米尺度表面形貌輪廓,并且?guī)酌腌娔軌虿杉?百萬數(shù)據(jù)點

摘要 光纖端面干涉檢測儀VFI-1200是為光纖端面質量檢測和光纖端面平整度檢測設計的光纖端面檢測系統(tǒng),用于檢查切割或拋光光纖端面表面質量和平整度

摘要 介質膜干涉濾光片標準物質型號:GBW(E)130120 金洋萬達用途及特點：按照JJG178-2007檢定見分光光度計的波長示值誤差與重復性

摘要 光干涉甲烷檢定器綜合校正儀GJX-2技術指標：　　測量范圍：（0~100）% CH4　　基本誤差：為被校正儀器基本誤差的二分之一　　氣密性：700mmH2O（7000Pa）壓力下持續(xù)5min,壓力下降≤10Pa

摘要 超大屏觀察用微分干涉顯微鏡(可移除底部工作臺)，ZX-100DIC工業(yè)檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態(tài)進行顯示。

摘要 SCJ-1光干涉瓦斯檢定器校準儀

摘要 CJG10/100光干涉式甲烷測定器

摘要 GJX-2光干涉甲烷測定器校正儀

摘要 WZX-2光干涉甲烷檢定器校驗臺

摘要 SCJ-2光干涉式甲烷測定器檢定裝置

摘要 納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800應用光干涉現(xiàn)象，對微細的表面形貌進行測量，可實現(xiàn)高性能薄膜、半導體、汽車零配件、顯示器等行業(yè)所要求的高精度測量。而且還能以無損傷方式進行多層膜的層結構以及層內部的異物測量。

摘要 GJX-2光干涉甲烷測定器校正儀

摘要 鄭州艾迪科技全國供應煤礦安全儀器儀表，WZX-2光干涉甲烷檢定器校驗臺：

摘要 ■軟件特點：*本系統(tǒng)符合JJG77-2006中華人民共和國國家計量技術規(guī)范標準。*本系統(tǒng)享有版權資格，已在國家*登記注冊，登記號：2013SR040399。*本系統(tǒng)具有計量證書，保證測量系統(tǒng)的精確度和有效度。

摘要 顯微鏡特點：干涉顯微鏡6JA是用來測量精密加工零件（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器，也可以用來測量零件表面刻線，鍍層等深度。

摘要